地理信息学与地统计学：概述

采用电子显微镜结合 X 射线光谱法对 Kuntawa 滑坡进行评估；一种地貌学方法

迪克迪 PN

这项工作的核心是对 2003 年 Kuntawa 一起神秘滑坡事件的评估，该事件造成七人死亡和一辆卡车的损失。采用了 Phenom ProX 扫描电子显微镜 (SEM)（3500 倍）：该设备集成了能量色散 X 射线能谱 (EDS)、二次电子探测器 (SED)、背散射电子探测器 (BSED) 和 Particlemetric 软件，用于元素识别、化学形貌、形态、图像
对比度和粒度测定。滑坡现场的元素组成由 EDS 生成：氧 (O)、硅 (Si)、溴 (Br)、铁 (Fe)、碳 (C) 和铝 (Al)。对于样本 1 和 2，O 和 C 的元素组成浓度最高和最低分别为 68.5%（深度为 3.75 m）和 1%（
深度为 3.82 m）。这种高浓度可能是由于地下微生物藻类活动的存在。在调查区域内，硅的浓度较低，为 14.1% 至 19.8%。铁浓度分别下降和上升了 2.3% 和 1.9%。
这些结果可能表明地球表面活动，如洪水、先前的山体滑坡以及地核和地幔物质侵入 Kuntawa 的地壳结构。结果揭示了微裂缝，它们是地下较大裂缝的尖端；几年前 Kuntawa 可能发生了一次未报告的地震事件。
由于溴存在于海洋中，因此溴的存在可以推断 Kuntawa 地区可能曾经作为海洋地壳或海底存在。这些结果表明，必须撤离有人居住的洪泛平原，因为这些平原随时可能滑坡。