牙齿健康：当前研究

2780 nm Er:Cr:Ysgg 激光与 xp-Endo Finisher 对根管牙本质通透性和玷污层去除的影响的比较研究：一项体外研究

Al-Mafrachi RM、Awazli LG 和 Al-Maliky MA

本研究旨在通过根管牙本质通透性和 SEM 分析评估 Er:Cr:YSGG 2780nm 激光与 Xp-endo Finisher 在消除玷污层方面的作用。方法：将 28 颗单根拔除的下颌前磨牙加工至 X4 尺寸（protaper Next，Dentsaply），并根据冲洗系统分成两组，第一组使用 Xp-endo Finisher 激活，第二组使用 Er:Cr:YSGG 激光 2780nm，脉冲模式，1.25W。之后，将根部制成外部不通透状态，填充 2% 亚甲蓝染料，水平分成三个段，代表根尖、中间和冠部三分之一，然后在立体显微镜下检查。使用分析软件测量根部切面积和染料渗透面积，然后计算净染料渗透面积的百分比。此外，还完成了扫描电子显微镜研究。结果非参数 Mann-Whitney U 检验显示，两组实验组在根管长度上存在高度显著差异。与其他组相比，铒激光组的染料渗透率在整个根管长度上明显更高。扫描电子显微镜照片显示，铒激光组玷污层去除明显，牙本质小管的环状结构得以保留，而 Xp-endo finishing 组玷污层去除不均匀，牙本质小管呈镰刀状，表明它们部分开放，尤其是在根尖三分之一处。