计算机工程与信息技术学报

利用回归模型的简单电路

斯蒂芬·萨尔瓦托*

本文的目的是通过使用传统的最小二乘法来解决多项式回归模型的系数来识别多输入简单电路中的参数缺陷，并在解决方案中应用一些考虑因素。使用多项式系数将多输入电路输出传达给多个数据点。在所提出的方法中，使用蒙特卡罗再现将被测电路 (CUT) 的每个部分的值与其电阻极限相差，以确定其无缺陷多项式系数极限。然后根据其评估的多项式系数与无缺陷系数的比较结果宣布 CUT 完好无损或损坏。据我们所知，使用多项式回归演示在多输入简单电路中尝试参数缺陷识别是前所未有的。通过两个背景调查展示了所提出方法的充分性，具体是引线松弛电路和顶部电流模式控制降压型交换转换器的 PI 补偿器