纳米材料与分子纳米技术杂志

利用表面等离子体共振技术检测 SnO2 薄膜中的经典和拓扑尺寸效应

Grinevich VS、Filevskaya LN、Maximenko LS、Matyash IE、Mischuk ON、Rudenko SP、Serdega BK 和 Smyntyna VA

_{利用表面等离子体共振技术检测 SnO 2}薄膜中的经典和拓扑尺寸效应

利用电磁辐射的偏振调制研究了化学计量电介质基质中含有缺陷二氧化锡簇的纳米级薄膜中表面等离子体共振引起的内部反射特征。在波长范围 λ = 400-1600 nm 内测量了 s 和 p 偏振辐射的反射率 R _s ²和 R _ρ ²的角度和光谱特性以及它们的偏振差 ρ = R _s ² –R _ρ ²。获得的实验特性 ρ (θ, λ)（θ 为辐射入射角）表示与薄膜结构和形貌相关的光学特性特征。检测了由 s 和 p 偏振辐射激发的表面等离子体极化子和局部等离子体；确定了它们的频率和弛豫特性。用于研究二氧化锡薄膜中表面等离子体共振的技术似乎对结构敏感。